干漆膜测厚仪用于对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和标准中称为覆层。采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

　　干漆膜测厚仪测定注意事项：

　　1、表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

　　2、基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。

　　3、基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　4、曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。

　　5、读数次数：通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此OU3500漆膜测厚仪必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　6、边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　7、磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。

　　8、测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。